凌世电磁RIS-6091，全面适配IEC 61000-4-6:2023

在工业4.0和智能物联时代，电子设备面临复杂的电磁环境考验。IEC 61000-4-6作为传导干扰抗扰度测试的核心标准，通过模拟射频场引起的电缆干扰，验证设备在150kHz-80MHz频段下的稳定性。而凌世电磁推出的RIS-6091测试系统，正是专为解决此类挑战而生。

01 RIS-6091简介

RIS-6091是凌世研发的一套成熟的多功能射频传导抗扰度测试系统。主机内置信号源、功率计、定向耦合器和功放模块，同时也可扩展使用外部功放模块，实现测试用途的扩展：包括满足IEC 61000-4-6标准的CS测试、汽车电子ISO 11452-4标准的BCI大电流注入测试及其它场合的大电流测试试验。

凌世RIS-6091实物图 凌世RIS-6091实物图

‌上位机控制‌：标配中英文版专业测试软件，功能完整，可扩展性好；

耦合去耦网络配置‌：各种规格耦合去耦合网络齐全，可满足不同测试端口的需求；

全自动校准：全自动测试及测试过程中输出功率监测;

功率放大器配置‌：提供 ‌35 W‌ 或 ‌85 W‌ 两种选择，匹配不同测试等级需求，确保信号输出的线性度与稳定性

实测波形图 实测波形图

02 IEC 61000-4-6新旧标准关键差异

▶ ‌测试程序优化

IEC 61000-4-6:2013 IEC 61000-4-6:2023

在标准章节7.4中的选择注入法和试验点原则看，通过对比以上两张图片，在于无合适CDN选择的情况下，会有以下差异：

——对于屏蔽线，不合适EM clamp测试时，可选择direct injection或current clamp injection，比旧版多了current clamp injection的选择；

——对于屏蔽线，合适EM clamp测试时，新版就用EM clamp测试即可，旧版则需要检测AE端是否满足150Ω系统阻抗，再决定使用EM clamp 或 current clamp injection的测试方法；

——对于非屏蔽线，新版选择使用EM clamp或current clamp injection；旧版则需要检测AE端是否满足150Ω系统阻抗，再决定使用EM clamp or current clamp的具体测试方法。

▶ 放大器饱和度检查方法‌优化‌

在传导抗干扰测试中‌优化了放大器饱和度检查方法，需要放大器处于不饱和的状态下进行测试，2023版的标准对确认饱和度的方法进行了优化，如下：

1）在所有使用的耦合装置中，确定在每个频率步长电平设置过程中所需的最高正向功率P formax。

2）对于每个频率，重复以下步骤：

i. 设置功放输出电平为P formax；

ii. 将射频信号发生器的控制电平提高5.1 dB；

iii. 记录新的正向功率P formax, inc；

iv. 如果对于所有频率步长，P formax, inc -P formax的差值在3.1 dB和7.1 dB之间，则放大器在公差范围内，并且测试系统足以在选定的测试电平进行测试。如果差值小于3.1 dB或大于7.1 dB，则放大器是非线性的，不适合测试。

（下图是功放线性度软件演示）

（软件升级检查功放线性度） （线性度检测结果查看）

03 RIS-6091设备亮点

升级为3个功率计（前向功率，反向功率，监测功率计）

校准时进行功放饱和度验证（满足IEC61000-4-6:2023标准的要求）

软件保护功能（功放输入保护和功放输出保护）

校准可自定义频率列表

测试等级可编辑曲线（例如GB/T9254.2:2021要求）

测试等级可不同于校准等级（校准高电压等级，无需重新校准即可以降低测试电压）

测试可依据校准的信号源输出或者前向功率

读表台误差试验 (配合电能表校表台装置，实现电能表测试自动读误差功能)

支持TCP/UDP服务（可将测试时的频率和等级数据以服务的形式接口客户可通过接口来获取测试信息）

审核编辑 黄宇